堿基切割序列掃描(base excision sequence scaning, BESS)是一種不通過測序而檢測和定位突變的新技術(shù)。它的基本技術(shù)路線是:用熒光或同位素標(biāo)記的引物在有dUTP的條件下進(jìn)行PCR擴(kuò)增,選用適宜限制酶將PCR產(chǎn)物于dU位點(diǎn)處切斷,以高分辨PAGE膠分離并比較待檢和標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照條帶,從而檢測和定位突變。BESS的一個(gè)反應(yīng)就可篩查長達(dá)千個(gè)堿基的DVA序列,而且它對(duì)點(diǎn)突變、缺失、插入、倒位及框移動(dòng)的檢測有效率大于90%。該技術(shù)以其突變檢測 效率高和覆蓋面廣而被推廣和應(yīng)用。
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